產品展示
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測量項目:? 絕.對反射率測量? 多層膜解析? 光學常數分析(n:折射率,k:消光系數)
查看詳情半導體晶圓缺陷檢測儀利用亮場和暗場顯微成像技術,通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具,為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。
查看詳情ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統可測量濃度低的溶液~濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。
查看詳情AMOS RU120基本緊湊便攜式拉曼光譜儀是一款獨立的研究儀器,旨在進行光譜測量,其能力達到*端系統的水平。 RU120采用剛性無活動部件設計,無需調整,具有高靈敏度和高光譜分辨率,并配備內置單模激...
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